x 射线荧光镀层测厚仪测量原理-凯发娱乐

符合 din iso 3497 和 astm b 568 标准的能量色散式 x 射线荧光分析 (xrfa)


测量方法：
x 射线荧光分析的基础在于，当材料样品中的原子被初级 x 射线激发时，来自最内层电子层的电子将释放出来；所产生的空位由来自外层电子层的电子填充。

在电子跃迁的过程中，每种元素都会产生其特有的特征x射线荧光辐射。探测器可接收到该荧光辐射并能据此给出样品成分的相关信息。