f20薄膜厚度测量仪-凯发娱乐

产地：美国 品牌：凯发娱乐 点击：
简介：不论您是想要知道薄膜厚度、光学常数，还是想要知道材料的反射率和透过率，f20都能满足您的需要。仅需花费几分钟完成安装，通过usb连接电脑，设备就可以在数秒内得到测量结果。

产品介绍

一、产品简介

不论您是想要知道薄膜厚度、光学常数，还是想要知道材料的反射率和透过率，f20都能满足您的需要。仅需花费几分钟完成安装，通过usb连接电脑，设备就可以在数秒内得到测量结果。基于某模块化设计的特点，f20适用于各种应用：
· 测量厚度、折射率、反射率和穿透率：
- 单层膜或多层膜叠加
- 单一膜层
- 液态膜或空气层 · 不同条件下的测量，包括：
- 在平面或弯曲表面
- 光斑最小可达20微米
- 桌面式、xy坐标自动化膜厚测量，或在线配置

二、测量原理

当入射光穿透不同物质的界面时将会有部份的光被反射，由于光的波动性导致从多个界面的反射光彼此干涉，从而使反射光的多波长光谱产生振荡的现象。
从光谱的震荡频率，我们可以判断不同界面的距离进而得到材料的厚度(越多的震荡代表越大的厚度)，同时也能得到其他的材料特性如折射率与粗糙度。

三、产品应用

半导体薄膜	液晶显示	光学镀膜	生物医学
· 光刻胶 · 工艺薄膜 · 介电材料	· oled · 玻璃厚度 · ito与其他tco	· 硬涂层 · 抗反射层	· parylene · 医疗设备

四、技术参数

规格	f20-uv	f20-uvx	f20	f20-exr	f20-nir	f20-xt
波长范围	190-1100nm	190-1700nm	380-1050nm	380-1700nm	950-1700nm	1440-1690nm
光源	外置氘灯钨卤素灯		内置钨卤素灯
厚度测量范围	1nm-40μm	1nm-250μm	15nm-70μm	15nm-250μm	100nm-250μm	0.2μm-450μm
最小厚度	50nm	50nm	100nm	100nm	500nm	2μm
准确度	1nm或0.2%	1nm或0.2%	2nm或0.2%	2nm或0.2%	3nm或0.4%	5nm或0.4%
精度	0.02nm	0.02nm	0.02nm	0.02nm	0.1nm	1nm
稳定性	0.05nm	0.05nm	0.05nm	0.05nm	0.12nm	1nm
光斑大小	标准1.5mm,可选配至20μm					600μm
样品尺寸	直径从1mm到300mm或更大
电源	100- 240 vac, 50- 60hz, 0.3-0.1 a
接口	usb 2.0
认证	ce emc和欧洲安全指令
操作系统	pc: windows xp (sp2) - latest windows (64-bit)